Presentazione

Organizzazione della Didattica

DM270
SCIENZA DEI MATERIALI ORD. 2013

Metodi fisici di caratterizzazione dei materiali e laboratorio

10

Corsi comuni

 

Frontali Esercizi Laboratorio Studio Individuale
ORE: 40 12 48 98

Periodo

AnnoPeriodo
I anno1 semestre

Frequenza

Obbligatoria

Erogazione

Convenzionale

Lingua

Italiano

Calendario Attività Didattiche

InizioFine
01/10/201424/01/2015

Tipologia

TipologiaAmbitoSSDCFU
caratterizzanteDiscipline fisiche e chimicheFIS/0310


Responsabile Insegnamento

ResponsabileSSDStruttura
Prof. CARNERA ALBERTOFIS/03Dipartimento di Fisica e Astronomia "Galileo Galilei" - DFA

Altri Docenti

DocenteCoperturaSSDStruttura
Prof. DE SALVADOR DAVIDEIstituzionaleFIS/03Dipartimento di Fisica e Astronomia "Galileo Galilei" - DFA
Prof.ssa MAURIZIO CHIARAAffidamento direttoFIS/03Dipartimento di Fisica e Astronomia "Galileo Galilei" - DFA

Attività di Supporto alla Didattica

Non previste

Bollettino

Il contenuto del corso presuppone che lo studente sia in possesso di solide competenze di fisica classica, di fisica quantistica e nozioni di base di fisica dello stato solido. Questa preparazione è fornita dagli insegnamenti del corso di Laurea in Scienza dei Materiali e del corso di Laurea in Fisica.

Lo studente imparerà a utilizzare varie interazioni della radiazione con la materia allo scopo di ottenere informazioni sulla composizione, sulla struttura cristallina e sulla distribuzione in sia in profondità che laterale delle specie chimiche presenti. Alla fine del corso lo studente padroneggerà alcuni esempi di base di metodi spettroscopici e di microscopia utilizzati nello studio dei materiali e sarà in grado di discuterne criticamente i risultati.

Lezioni frontali e sessioni di misura presso i laboratori del Dipartimento di Fisica e Astronomia.

Principi di base dell’interazione radiazione-materia. La sezione d’urto L’interazione coulombiana a due corpi ione-nucleo e la Spettrometria di Rutherford Backscattering. La perdita di energia degli ioni nella materia. La rivelazione di specie leggere: l’analisi con reazioni nucleari e la spettroscopia dei nuclei di rinculo. La spettrometria di massa di ioni secondari: il fenomeno dello sputtering, gli spettrometri di massa, l’a quantificazione dei risultati. La diffrazione a raggi X ad alta risoluzione da materiali cristallini. La teoria cinematica e la teoria dinamica. Monocromatizzazione e collimazione dei raggi X. L’intensità diffratta nello spazio reciproco. La riflettività dei raggi X e le informazioni che se ne traggono.

Esame orale

Si valuterà la capacità dello studente di comprendere e discutere criticamente le basi fisiche ed i possibili utilizzi di metodi fisici di analisi dei materiali.

P.F. Fewster, X-ray Scattering from Semiconductors. London: Imperial College Press, 2003 L.C Feldman and J.W.Mayer, Fundamentals od Surface ans Thin Film Analysis. New York: North-Holland, 1986

A supporto dei testi consigliati saranno disponibili in rete le slides utilizzate nel corso delle lezioni.